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실장검사기

Memory Test Solution

실장검사기

AP 또는 CPU를 탑재한 보드에 실제 사용자 환경을 구현하고,
LPDDR 및 UFS 메모리를 소켓 방식으로 장착하여 신뢰성을 검증할 수 있는 반도체 검사장비입니다.

실장검사기란

Memory Test Solution

테스트 대상 메모리 단품 또는 모듈을 소켓에 착탈하여 모바일, PC, 서버용 AP/CPU 기반의 실제 사용자 환경의 OS 레벨에서 테스트하는 싱글/멀티 파라 실장검사기

1 Para Open Type Tester

1 Para Open Type Tester

AP 또는 CPU를 탑재한 보드에 실제 사용자 환경을 구현하고, LPDDR 및 UFS 메모리를 소켓 방식으로 장착하여 신뢰성을 검증할 수 있는 실장 검사 장비입니다.

최신 메모리 규격과 다양한 볼타입을 지원하며, VDD와 VCC 전원 조정, 디버그 인터페이스, DC 및 배터리 전원을 모두 지원하여 메모리 동작을 실제와 동일한 동작 환경으로 검증할 수 있습니다.

1 Para Shield Type Tester

1 Para Shield Type Tester

Open Type 실장기에 차폐형 하우징을 더해, 외부 환경 변화에도 안정적으로 연속 테스트 환경을 제공합니다.

전면 패널에 VDD2H·VDD2L·VDDQ/VCC VCCQ 값 및 상태 정보가 실시간 디스플레이로 표시됩니다.

4 Para Tester (2x2)

4 Para Tester (2x2)

하나의 장비에 4개의 AP Kit를 장착하여 동시에 테스트 할 수 있는 Multi Para 실장기입니다.

4 Para Tester (1x4)

4 Para Tester (1x4)

하나의 장비에 4개의 AP Kit를 장착하여 동시에 테스트 할 수 있는 Multi Para 실장기입니다.

Multi Para Tester

Multi Para Tester

별도 협의를 통해 상기 구성 외에 1X2, 2X4 등과 같은 맞춤형 Layout도 공급 가능.

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