반도체 검사의 효율을 극대화하는 최적화된 솔루션을 소개합니다.
테스트 대상 메모리 단품 또는 모듈을 소켓에 착탈하여 모바일, PC, 서버용 AP/CPU 기반의 실제 사용자 환경의 OS 레벨에서 테스트하는 싱글/멀티 파라 실장검사기
효율적이고 응답이 빠른 비선형 Robust 제어기술을 적용한 열전소자에, MFC(Micro Flow Cooling) 기반의 고효율 수냉식 방열 재킷을 적용하여, 극저온 및 고온 테스트 환경을 지원하는 온도제어장비
당사의 특허기술이 적용된 열전소자 기반의 온도제어 솔루션을 적용하고, 실장검사기를 포함한
End to End 통합 설계 및 제어를 통해, 효율성과 안정성이 보장되는 통합형 자동화 검사장비
세계 최초로 HBM All-Pin Test가 가능하며, HBM Real-Speed 환경에서 Full I/O 동작 테스트를 지원하는 검사장비
Coming Soon
반도체 후공정에서 Component 및 Module의 DC Test, Function Test 등의 최종 검사와
Real-Speed Test를 지원하고, DSA를 변경하여 다양한 종류의 메모리 테스트가 가능하도록
범용성을 높인 검사장비
* DSA: Device Specific Adaptor
Coming Soon